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低溫低氣壓綜合實驗

1范圍

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法

本部分規(guī)定了低溫與低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。

本部分適用于在高山地區(qū)或飛機儀表盤上或導彈上使用的光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。

本試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電學等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，包括測定水的冷凝和凍結對儀器或零部件的附加影響.

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 12085的本部分的引用而成為本部分的條款.凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容〉或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本.

凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分.

GB/T 12085. 1 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第1 部分術語、試驗范圍(GB/T 12085.1-

2010 , ISO 9022-1: 1994,MOD)

3試驗條件

3. 1試驗箱〈室〉必須是空氣流通的低氣壓或是商空模擬試驗箱〈室) ，它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗箱(室) ，也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗箱〈室〉的大小及試樣安放的位置， 應能保證所有試樣都處于均勻的環(huán)境條件下.

3.2在試驗箱〈室〉內(nèi)，試樣需先達到規(guī)定的試驗溫度，然后再把箱內(nèi)壓力降到有關標準的規(guī)定值。

3.3按條件試驗方法5 1(見4.2)進行試驗時，在升壓期間，可用高純氯氣或對試樣輻射加熱方法，避免試樣上產(chǎn)生結籍和凝露.

3. 4試驗箱(室〉內(nèi)的溫度和氣壓的變化應緩慢進行，以免引起試樣的損壞.

3.5試樣的各個部分都達到試驗箱(室〉的溫度士3 "C之內(nèi)和氣壓達到規(guī)定值時暴露周期開始。散熱試樣應冷卻到試驗溫度，在溫度穩(wěn)定的試驗箱(室〉中試樣的溫度變化在1 h 內(nèi)不大于士1 "C時，開始降低氣壓。在降壓過程中，允許試樣自身發(fā)熱，直到試驗壓力達到規(guī)定值時作為暴露時間開始。暴露結束后壓力和溫度的升高同時開始，箱〈室〉內(nèi)空氣和試樣的溫度都應測量.溫度傳感器在試樣上的位置應在有關標準中規(guī)定，用來測量箱〈室〉內(nèi)空氣溫度的溫度傳感器的位置應在試驗報告中說明.

3.6按條件試驗方法50 進行試驗后，試樣在壓力升高過程中產(chǎn)生結霜和凝露的方法應在相關標準中規(guī)定，可在下述方法中選用za) 在低氣壓條件下凝露的形成在溫度為一20 "C - - 10 "c范圍內(nèi)和氣壓為40 kPa 以上的低氣壓范圍內(nèi)，在加熱過程中將水蒸氣注入試驗箱〈室〉內(nèi).b) 在標準環(huán)境壓力條件下凝露的形成在加熱期間，試驗室內(nèi)的壓力調(diào)到標準的環(huán)境壓力，而溫度仍保持在一20 .C--10 .C 之間，由于低溫使水分凝結在試樣上.

GB/T 12085.5-2010

4 條件試驗

4. 1 條件試驗方法50: 包括霜和露的低溫、低氣壓綜合試驗條件試驗方法50 包括霜和露的低溫、低氣壓綜合試驗的嚴酷等級按表1。

4.2 條件試驗方法51 :不包括霜和露的低溫、低氣壓綜合試驗條件試驗方法51 不包括霜和露的低溫、低氣壓的綜合試驗的嚴酷等級按表1 中01 、02 、03 、04 、06 、07 的規(guī)定。5 試驗程序

條件試驗方法50 的試驗程序參見附錄A 。

6 環(huán)境試驗標記

環(huán)境試驗標記應符合GB/T 12085.1 的規(guī)定。

示例s光學儀器抗低溫、低氣壓綜合試驗，環(huán)境試驗條件方法51 、嚴酷等級01 、工作狀態(tài)1 的標記為2環(huán)填試驗GB/T 12085-51-01-1 .

7 有關標準應包括的內(nèi)容

2a) 環(huán)境試驗標記;

b) 試樣數(shù)量;

c) 條件試驗方法50 結霜的起始時間和產(chǎn)生方法;

d) 溫度傳感器在試樣上的位置;

e) 預處理s

f) 初始檢測的內(nèi)容和范圍;

g) 工作狀態(tài)2 工作周期的確定;

h) 工作狀態(tài)2 中間檢測的內(nèi)容和范圍;

i) 恢復F

j) 最后檢測的內(nèi)容和范圍;

k) 評價判據(jù)

1) 試驗報告的內(nèi)容和范圍.